网络讲堂邀请：x射线荧光法直接测定nip镀层厚度和含量-凯发k8官网下载客户端

主题：x射线荧光法直接测定nip镀层厚度和含量

开始时间： 2017-1-12 15:00
结束时间： 2017-1-12 16:00
主讲人： 董松林，日立（上海）有限公司台式荧光应用工程师，长期从事x射线荧光仪和xrf分析方法的应用与凯发k8官网下载客户端的技术支持工作。

【内容简介】

化学镍（nip）镀层应用在表面处理行业非常广泛，但生产工艺控制中对于nip镀层的厚度和成分同时监控是一个难点。传统的分析方法是预设nip比例，然后测试厚度。无法做到同时测量。

本次讲堂介绍一种使用xrf方法同时测定nip镀层厚度和组成的凯发k8官网下载客户端的解决方案。通过对测试所需仪器的硬件介绍，几个具体案例和实际测试数据来说明nip厚度与组成同时测量的可行性。